一、半导体检测设备国产化加速,精测电子技术突破引领产业升级
(一)前道量测领域国产替代突破
精测电子在半导体前道量测设备领域实现多项技术突破,其膜厚系列产品、OCD设备(光学关键尺寸量测)、电子束设备及明场光学缺陷检测设备均处于国内行业领先地位。其中:
精测电子在半导体前道量测设备领域实现多项技术突破,其膜厚系列产品、OCD设备(光学关键尺寸量测)、电子束设备及明场光学缺陷检测设备均处于国内行业领先地位。其中:
报告网所有产经新闻是由用户上传分享,未经用户书面授权,请勿作商用!
如您想投稿,请将稿件发送至邮箱
seles@yuboinfo.com,审核录用后客服人员会联系您