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半导体行业深度研究:半导体检测设备:从前道到后道,全程保驾护航

  1. 2021-03-18 05:04:26上传人:Ia**ac
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  • 1. 检测设备:保驾护航、侦测并监控半导体关键良率偏移
  • 1.1. 分类:前道量检测、后道测试,提升良率保障性能
  • 1.2. 市场趋势:新应用涌现驱动市场潜力、工艺步骤倍增拓宽市场空间
  • 1.3. 市场规模:重要地位日益凸显,中国增速高于全球
  • 1.4. 竞争格局:国外高度垄断,国产替代需求迫切有望提速
  • 2. 前道量检测设备:物理、功能性检查,提升良率,市场壁垒高筑
  • 2.1. 三种分类标准:检测目的、应用范畴、技术原理
  • 2.2. 检测目的分类:量测和检测,价值量随工艺技术同步提升
  • 2.3. 应用范畴分类:关键尺寸、膜厚、套刻对准,光罩 /掩膜、图形、缺陷复查等 .. 12
  • 2.3.1. 关键尺寸量测:监控线宽和孔径,实现精确误差测量
  • 2.3.2. 薄膜厚度量测:厚度、反射率、密度量测,鉴定和监控不同薄膜层
  • 2.3.3. 套刻对准量测:高阶矫正光刻机、掩模和硅片位置误差,提高覆盖精度 .. 13
  • 2.3.4. 光罩 /掩模检测:捕获光罩缺陷和图案位置错误,降低缺陷引发风险
  • 2.3.5. 无图形晶圆检测:检出裸晶圆颗粒及缺陷,奠定图形化检测基础
  • 2.3.6. 图形化晶圆检测:比较图像生成缺陷图,识别物理和高纵横比缺陷
  • 2.3.7. 缺陷复查检测:放大缺陷图像进行甄别,提供依据优化制程工艺
  • 2.4. 技术原理分类:光学、电子束检测,应用互补,多方位检测
  • 2.5. 全球市场及主要厂商:国外高度垄断,膜厚量测打开细分赛道突破口
  • 2.6. 中国主要厂商:紧握细分市场机遇,产品陆续中标,拉动增长曲线
  • 3. 后道测试设备:电性测试,新产线持续投入带动市场高速增长
  • 3.1. 分类:测试机、探针台、分选机,保障性能助力良率提升
  • 3.2. 全球市场:测试机市场份额过半
  • 3.3. 测试机:测试器件电路功能及电性能参数,保驾护航贯穿始终
  • 3.3.1. 全球市场及主要厂商:爱德万、泰瑞达寡头垄断,进口替代需求迫切
  • 3.3.2. 中国主要厂商:积极布局追赶,夯实国内,开拓海外
  • 3.4. 探针台:负责晶圆输送与探针定位,提升测试效率
  • 3.4.1. 全球市场及主要厂商:东京精密、东京电子寡头垄断,中国增速加快
  • 3.4.2. 中国主要厂商:抓住市场机遇,技术积累,蓄势待发
  • 3.5. 分选机:高精度高兼容,负责产品的测试接触、拣选和传送
  • 3.5.1. 全球市场及主要厂商:壁垒多重,格局未定,中国有望取得话语权
  • 4. 风险提示
  • 图 1:全球检测设备市场、分类及厂商
  • 图 2:广义上的半导体检测设备分类
  • 图 3:半导体在汽车中的应用
  • 图 4:汽车领域缺陷导致产生的产品损失(百万美元)
  • 图 5:2020 -2021 全球 GDP 和 IC 市场增量( %)
  • 图 6:全球半导体前道量检测设备市场规模 2016 -2020 (亿美元, %)
  • 图 7:全球半导体后道测试设备市场规模 2016 -2020 (亿美元, %)
  • 图 8: 2016 -2020 中国半导体检测设备市场规模(亿元)
  • 图 9:2020 -2026 年中国半导体检测设备市场规模预测(亿元)
  • 图 10 :缺陷检测设备原理
  • 图 11 :关键尺寸量测
  • 图 12 :薄膜厚度量测
  • 图 13 :套刻对准量测
  • 图 14 :套刻对准量测和关键尺寸量测案例
  • 图 15 :膜厚量测设备案例
  • 图 16 :光罩 /掩模检测系统工作原理示意图
  • 图 17 :光罩 /掩膜缺陷检测系统案例
  • 图 18 :光罩 /掩模检测系统案例 2
  • 图 19 :EUV 掩模版缺陷检测:聚焦扫描原理示意图
  • 图 20 :EUV 掩模缺陷检测 1
  • 图 21 :EUV 掩模缺陷检测 2
  • 图 22 :极紫外光 EUV 相关设备
  • 图 23 :无图形晶圆上的缺陷检测流程
  • 图 24 :无图形晶圆上缺陷检测原理
  • 图 25 :检测工具中的光收集、加工和晶圆映射
  • 图 26 :无图形晶圆检测系统案例
  • 图 27 :图形化晶圆检测原理
  • 图 28 :图形化晶圆检测系统案例
  • 图 29 :缺陷复查设备功能
  • 图 30 :光学明场、暗场检测原理
  • 图 31 :电子束检测原理
  • 图 32 :电子束图案晶圆检测系统案例
  • 图 33 :光学明场检测设备案例
  • 图 34 :光学暗场检测设备案例 1
  • 图 35 :光学暗场检测设备案例 2
  • 图 36 :2016 -2020 全球半导体前道量检测市场规模及拆分(亿美元, %)
  • 图 37 :前道量检测细分赛道市场情况( %)
  • 图 38 :2017 -2018 前道量检测市场格局( %)
  • 图 39 :KLA 最新产品
  • 图 40 :应用材料 AMAT 检测设备
  • 图 41 :日立 Hitachi 检测设备
  • 图 42 :Onto 主要检测设备
  • 图 43 :ASMPT 图像传感器封测流程
  • 图 44 :ASMPT 检测设备
  • 图 45 :上海精测发展历程及产品
  • 图 46 :上海精测检测设备案例
  • 图 47 :中科飞测主要设备
  • 图 48 :上海睿励主要设备
  • 图 49 :Optima 主要设备
  • 图 50 :后道测试设备在集成电路流程中所处位置
  • 图 51 :中国测试设备构成及市场规模(单位: %,亿美元)
  • 图 52 :2019 年测试机主要设备公司及占比( %)
  • 图 53 :泰瑞达测试机主要分类
  • 图 54 :爱德万主要测试机分类
  • 图 55 :ASMPT 光电产品应用解决方案及先进封装解决方案
  • 图 56 :ASMPT 主要测试设备
  • 图 57 :2019 测试机全球细分领域占比分类( %)
  • 图 58 :2019 测试机中国细分领域占比分类( %)
  • 图 59 :各公司测 试机适用领域
  • 图 60 :2018 年中国集成电路测试机产品结构(单位:亿元)
  • 图 61 :存储器测试设备分类及占比( %)
  • 图 62 :长川科技主要设备
  • 图 63 :华峰测控主要设备
  • 图 64 :2020 主要测试机公司关键技术指 标对比
  • 图 65 :探针台
  • 图 66 :全球及我国探针台市场规模(亿元, %)
  • 图 67 :2019 年全球及我国探针台市场 TOP 企业格局( %)
  • 图 68 :全球及我国探针台主要公司
  • 图 69 :全球分选机市场主要企业及 占比( %)
  • 图 70 :长川科技主要分选机设备
  • 图 71 :上海中艺主要分选机设备

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